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参考文献: [1] 杨超,张金凤,马成英.NAND FLASH 测试设计及使用探讨 [J]. 电子世界,2018,No.551 (17):116-118.DOI:10.19353 /j.cnki.dzsj.2018.17.063. NAND FLASH 是非易失性存储器…
STM32
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2 年前
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